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题名/责任者:

瞬时电离辐射效应/陈伟 ... [等] 著

出版发行项:

北京:科学出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-03-074044-1 精装/CNY180.00

载体形态项:

208页:图;24cm

丛编项:

辐射环境模拟与效应丛书

个人责任者:

陈伟 著

学科主题:

电离辐射-辐射效应

中图法分类号:

O644.2

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 王桂珍, 李瑞宾, 白小燕, 齐超, 李俊霖

出版发行附注:

国家科学技术学术著作出版基金资助出版

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

瞬时电离辐射效应是电子系统最常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用, 感生光电流, 改变器件及电路的特性和功能, 影响电子系统的可靠性。本书主要介绍核辐射环境及效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用。

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