MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:89
- 题名/责任者:
- X射线衍射分析技术/晋勇, 孙小松, 薛屺编著
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2008.07
- ISBN及定价:
- 978-7-118-05778-2/CNY39.00
- 载体形态项:
- 302页:图;26cm
- 个人责任者:
- 晋勇 编著
- 个人责任者:
- 孙小松 编著
- 个人责任者:
- 薛屺 编著
- 学科主题:
- X射线衍射分析
- 中图法分类号:
- O657.39
- 书目附注:
- 有书目 (第301-302页)
- 提要文摘附注:
- 本书内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等10章及附录。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
O657.39/110 | 71321816 | - | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) |
O657.39/110 | 71321815 | - | 自然科学第二书库(7F) | 可借 | 现代技术部(1F) |
O657.39/110 | 71321817 | - | 自然科学第二书库(7F) | 可借 | 现代技术部(1F) |
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