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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:67

题名/责任者:
半导体光谱分析与拟合计算/陆卫, 傅英著
出版发行项:
北京:科学出版社,2014
ISBN及定价:
978-7-03-039566-5 精装/CNY79.00
ISBN及定价:
978-7-89445-911-4 光盘
载体形态项:
x, 218页:图;25cm+光盘1片
丛编项:
半导体科学与技术丛书
个人责任者:
陆卫
个人责任者:
傅英
学科主题:
半导体-光谱分析
学科主题:
半导体-光谱-计算
中图法分类号:
O472
载体形态附注:
附光盘:ISBN978-7-89445-911-4
书目附注:
有书目和索引
提要文摘附注:
本书在简要介绍半导体光谱测量基本手段后, 比较系统地阐述了几种常用的半导体光谱分析方法, 同时对光谱的拟合方法作了理论探讨和具体介绍。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O472/710 71940641   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
O472/710 71940642   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
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