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题名/责任者:

现行光学元件检测与国际标准/徐德衍[等] 编著

出版发行项:

北京:科学出版社,2009

ISBN及定价:

978-7-03-025083-4/CNY50.00

载体形态项:

13, 302页:图;24cm

个人责任者:

徐德衍 编著

学科主题:

光学元件-检测

学科主题:

光学元件-国际标准

中图法分类号:

TH74

题名责任附注:

编著还有：王青等5人

提要文摘附注:

本书重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求；计量概念与误差及精度的必要知识；光学元件检测基础；光学元件的参数检测和性能检测的现行技术等内容。

电子资源:

http://www.bookuu.com/kgsm/ts/2009/08/27/1580110.shtml

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