MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：123
- 题名/责任者:
- FPGA芯片设计与测试技术研究/张惠国, 顾涵著
- 出版发行项:
- 苏州:苏州大学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-5672-3899-2/CNY59.00
- 载体形态项:
- 196页:图;24cm
- 个人责任者:
- 张惠国 著
- 个人责任者:
- 顾涵 著
- 学科主题:
- 可编程序逻辑器件-研究
- 中图法分类号:
- TP332.1
- 书目附注:
- 有书目 (第176-178页)
- 提要文摘附注:
- 本书围绕基于SRAM的FPGA, 基于岛状的架构, 对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计, 并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络, 同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识, 涉及了FPGA芯片涉及的多个方面, 可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识, 提升对FPGA器件的设计和应用能力。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP332.1/1561 | 72451152 |  自然书库（3F东）
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借出-应还日期：2024-05-21 | 自然书库（3F东） | |
| TP332.1/1561 | 72451153 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TP332.1/1561 | 72451154 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TP332.1/1561 | 72451155 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） |
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