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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：62

题名/责任者:
并行测试技术及应用/肖明清，付新华著
出版发行项:
北京:国防工业出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-118-06630-2/CNY38.00
载体形态项:
253页:图;23cm
并列正题名:
Parallel test technology and application
个人责任者:
肖明清 (1963-) 著
个人责任者:
付新华 (1980-) 著
学科主题:
并行控制-测试系统
中图法分类号:
TP206
提要文摘附注:
本书内容包括并行测试技术概述、并行测试系统开发过程、并行测试系统的资源优化配置、并行测试任务调度算法、并行测试系统接口适配器、并行测试系统面向对象的软件框架、并行测试系统的性能评估及并行测试系统的工程实现等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TP206/963 71650369  - 密集书库126（2F咨询台委托借阅） M0077633     可借 密集书库126（2F咨询台委托借阅）
TP206/963 71650368  - 密集书库126（非可借）     非可借 密集书库126（非可借）
TP206/963 71650370  - 密集书库126（非可借）     非可借 密集书库126（非可借）
TP206/963 71650371  - 密集书库126（非可借）     非可借 密集书库126（非可借）
TP206/963 71650367  - 自然书库（3F东）     可借
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