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题名/责任者:

光线跟踪算法技术/(美) Kevin Suffern著 刘天慧译

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2011

ISBN及定价:

978-7-302-24821-7/CNY98.00

载体形态项:

591页:图;26cm

统一题名:

Ray tracing from the ground up

个人责任者:

萨芬 (Suffern, Kevin) 著

个人次要责任者:

刘天慧 译

学科主题:

光学跟踪-算法理论

中图法分类号:

TP72

相关题名附注:

英文题名取自封面

责任者附注:

责任者Suffern规范汉译姓：萨芬

提要文摘附注:

本书详细阐述了与光线跟踪问题相关的高效解决方案及相应的数据结构和算法，主要包括采样技术、投影视图、视见系统、景深、非线性投影、立体视觉、光照与材质、镜面反射、光泽反射、全局光照、透明度、阴影、环境遮挡等内容。

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