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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:90

题名/责任者:
二维X射线衍射/(美) 贺保平著 程国峰主译
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2021
ISBN及定价:
978-7-122-35551-5 精装/CNY158.00
载体形态项:
370页, [29] 页图版:图 (部分彩图);27cm
统一题名:
Two-dimensional X-Ray diffraction
个人责任者:
贺保平 (He, Bob B.)
个人次要责任者:
程国峰
学科主题:
二维-X射线衍射-研究
中图法分类号:
O434.1
版本附注:
据原著第2版译出
出版发行附注:
John Wiley &.Sons,Inc.授权出版 限中国大陆发行
书目附注:
有书目和索引
提要文摘附注:
本书介绍了二维X射线衍射的原理、实验方法、应用技术及应用领域。内容涵盖X射线光源、二维探测器、测角仪和光路,以及衍射数据处理与解析(物相定性、微观结构分析、残余应力分析、织构分析、结晶度测量、薄膜分析、小角散射等),并给出了很多先进材料和药物等的具体分析实例,如用于检查各种样品,包括金属、聚合物、陶瓷、半导体、薄膜、涂料、生物材料、复合材料等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O434.1/421 60267398   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
O434.1/421 60267399   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
O434.1/421 72404872   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
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