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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:58

题名/责任者:
CEI测量技术原理、系统设计与应用/黄磊[等]著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-302-66067-5 精装/CNY99.00
载体形态项:
169页:图;24cm
并列正题名:
Principle, system design and application of CEI measurement technology
个人责任者:
黄磊
学科主题:
干涉测量法
中图法分类号:
O4
一般附注:
中国航天科技前沿出版工程·中国航天空间信息技术系列
题名责任附注:
著者还有:刘友永、陈少伍、孟玮
提要文摘附注:
本书重点介绍了CEI技术的基本原理,CEI系统的设计构建,实现CEI所突破的关键技术,以及CEI技术的工程应用实例;内容丰富全面,理论与实践并重。本书有助于从事航天测控工作的技术人员系统掌握和了解CEI技术的工作原理及CEI系统实现方法,具有较高的参考价值。
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O4/4109 72582031   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
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