MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：61
- 题名/责任者:
- 电子元器件检验技术.测试部分/工业和信息化部电子第五研究所组编 王晓晗, 罗宏伟编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-121-33485-6/CNY98.00
- 载体形态项:
- xi, 382页:图;26cm
- 其它题名:
- 测试部分
- 丛编项:
- 可靠性技术丛书
- 个人次要责任者:
- 王晓晗 编著
- 个人次要责任者:
- 罗宏伟 编著
- 团体责任者:
- 工业和信息化部电子第五研究所 组编
- 学科主题:
- 电子元器件-测试技术
- 中图法分类号:
- TN606
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法, 同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概况总结。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN606/132 | 72291882 |  自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TN606/132 | 72291883 | 自然书库（3F东）
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可借 | 总借还书处（2F） | |
| TN606/132 | 72291884 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） |
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