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题名/责任者:

光电材料表征技术/季振国等著

出版发行项:

杭州:浙江大学出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-308-21953-2/CNY78.00

载体形态项:

231页:图;24cm

并列正题名:

Characterization technologies for optoelectronic materials

个人责任者:

季振国 著

学科主题:

光电材料-研究

中图法分类号:

TN204

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书主要介绍光电材料涉及的表征技术, 并以大量实例辅助说明, 介绍了作者近四十年来在硅单晶、ZnO、GaN、发光材料及材料表征技术等方面取得的一系列成果。全书分为成分分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度分析、光学性能测量、电学性能测量等篇章。书中涉及很多较新的表征技术, 科学性和实用性很强。本书的特点是从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术, 重在介绍各种技术在材料领域的应用, 以用为主, 避免把重点放在仪器设备的描述上。

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