MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：49
- 题名/责任者:
- 软件测试技术概论/上海艾微软件技术有限公司主编 古乐，史九林编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2004.4
- ISBN及定价:
- 7-302-08177-8/CNY38.00
- 载体形态项:
- 13,450页;26cm
- 丛编项:
- 软件测试系列
- 个人次要责任者:
- 古乐 编著
- 个人次要责任者:
- 史九林 编著
- 团体责任者:
- 上海艾微软件技术公司 主编
- 学科主题:
- 软件工具-测试
- 学科主题:
- 软件工具
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 提要文摘附注:
- 本书内容涵盖了动态测试到静态测试，白盒测试到黑盒测试，单元测试到系统测试等多个测试领域，重点介绍了软件测试的一些基本概念和方法。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP311.5/234 | 70684447 |  临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/234 | 70684448 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/234 | 70684444 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/234 | 70684445 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/234 | 70684446 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/234 | 70684443 | 样本书阅览室（密集书库136）
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非可借 |
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