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题名/责任者:

数字电路老化预测与容忍/徐辉著

出版发行项:

合肥:中国科学技术大学出版社,2018

ISBN及定价:

978-7-312-04359-8/CNY30.00

载体形态项:

123页:图;24cm

并列正题名:

Prediction and tolerance on digital circuits aging

个人责任者:

徐辉 著

学科主题:

数字集成电路-研究

中图法分类号:

TN431.2

一般附注:

国家自然科学基金青年科学基金项目(61404001) 国家公派高级研究学者、访问学者、博士后 项目(201708340035)资助出版 安徽省高校省级自然科学研究重大项目(KJ2014ZD12)

书目附注:

有书目 (第113-123页)

提要文摘附注:

本书围绕NBTI引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究。研究的内容主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析论述，对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对于多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。

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