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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:89

题名/责任者:
伪集成电路检测与防护:detection and avoidance/(美) 马克 (穆罕默德)·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著 李雄伟 ... [等] 译
出版发行项:
北京:国防工业出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-118-12500-9 精装/CNY125.00
载体形态项:
xx, 227页:图;25cm
统一题名:
Counterfeit integrated circuits : detection and avoidance
个人责任者:
德黑兰尼普尔 (Tehranipoor, Mark Mohammad)
个人责任者:
吉恩 (Guin, Ujjwal)
个人责任者:
福特 (Forte, Domenic)
个人次要责任者:
李雄伟
个人次要责任者:
张阳
学科主题:
集成电路-检测
中图法分类号:
TN407
一般附注:
装备科技译著出版基金
题名责任附注:
题名页题: 李雄伟, 张阳, 陈开颜, 谢方方, 李艳译; 封面题: 李雄伟, 张阳, 陈开颜等译
出版发行附注:
本书中文简体版由Springer出版社授权国防工业出版社独家出版发行
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
伪集成电路是指不符合正品集成电路设计规范要求的非授权产品, 主要形式包括回收、重标记、超量生产、不合格/有缺陷、克隆、伪造文件, 以及篡改等, 会大大降低应用系统的安全性和可靠性。本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。
全部MARC细节信息>>
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