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题名/责任者:

IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测/肖飞，刘宾礼，罗毅飞，黄永乐主编

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2019.11

ISBN及定价:

978-7-111-63407-2/CNY59.00

载体形态项:

240页;26cm

个人责任者:

肖飞 主编

个人责任者:

刘宾礼 主编

个人责任者:

罗毅飞 主编

个人责任者:

黄永乐 主编

学科主题:

金属疲劳-疲劳力学

中图法分类号:

TG111.8

提要文摘附注:

《IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测》通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理，在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上，通过将理论分析与解析描述相结合，建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法，对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。

使用对象附注:

本书可作为从事电力电子技术理论与工程的技术人员的参考书，也可作为电力电子与电力传动专业的本科生、硕士和博士研究生，以及从事电力电子器件方面研究的师生与研究人员的参考书。

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