MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:53
- 题名/责任者:
- 光学测试技术/刘承, 张登伟, 张彩妮等编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2013
- ISBN及定价:
- 978-7-121-20194-3/CNY49.90
- 载体形态项:
- 311页:图;26cm
- 丛编项:
- 光电信息科学与工程类专业规划教材
- 个人责任者:
- 刘承 编著
- 个人责任者:
- 张登伟 编著
- 个人责任者:
- 张彩妮 编著
- 学科主题:
- 光学仪器-测试技术-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TH740.6
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书从基本原理出发,着重阐述各种物理量的光学测试技术、方法和手段,选材上既注重基础理论性更着重实用性和先进性,是学习、掌握先进的精密测试技术的一本入门教材和技术实用书籍。本书包括6章内容,分别为绪论、光干涉技术、光衍射技术、光调制及扫描技术、光纤传感技术和光纳米传感与测量技术。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TH740.6/010 | 71880344 | - | 中文书库(J、TH类)(11F) | 可借 | 中文书库(J、TH类)(11F) |
TH740.6/010 | 71880345 | - | 中文书库(J、TH类)(11F) | 可借 | 中文书库(J、TH类)(11F) |
TH740.6/010 | 71880346 | - | 中文书库(J、TH类)(11F) | 可借 | 中文书库(J、TH类)(11F) |
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