MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:50
- 题名/责任者:
- 抗辐射集成电路概论/韩郑生编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2011.04
- ISBN及定价:
- 978-7-302-24547-6/CNY30.00
- 载体形态项:
- 17, 202页:图;26cm
- 丛编项:
- 微电子与集成电路技术丛书
- 个人责任者:
- 韩郑生 编著
- 学科主题:
- 抗辐射性-集成电路
- 中图法分类号:
- TN4
- 书目附注:
- 有书目 (第200-202页)
- 提要文摘附注:
- 本书论述抗辐射集成电路方面的知识。全书共10章, 主要内容包括辐射环境、辐射效应、抗辐射双极集成电路设计等。
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN4/482 | 71744864 | - | 自然书库(3F东) | 可借 | 现代技术部(1F) |
TN4/482 | 71744865 | - | 自然书库(3F东) | 可借 | |
TN4/482 | 71744866 | - | 自然书库(3F东) | 可借 | |
TN4/482 | 71744867 | - | 自然书库(3F东) | 可借 | |
TN4/482 | 71744868 | - | 自然书库(3F东) | 可借 |
显示全部馆藏信息
CADAL相关电子图书
借阅趋势
同名作者的其他著作(点击查看)
收藏到: 管理书架