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题名/责任者:

半导体化合物光电器件检测/许并社主编

出版发行项:

北京:化学工业出版社,2013

ISBN及定价:

978-7-122-18947-9/CNY49.00

载体形态项:

258页:图;26cm

并列正题名:

Photoelectric device detection and measurement of semiconductor compound

丛编项:

半导体化合物研究与应用丛书

个人责任者:

许并社 主编

学科主题:

化合物半导体-半导体光电器件-检测-高等学校-教材

中图法分类号:

TN36

一般附注:

普通高等教育“十二五”规划教材

相关题名附注:

封面英文题名：Photoelectric device detection and measurement of semiconductor compound

提要文摘附注:

本书主要介绍半导体材料和器件以及太阳能电池的各种测试分析技术，涉及扫描电子显微镜，高分辨透射电子显微镜，原子力显微镜，薄膜X射线衍射仪，光致发光光谱，电致发光光谱，霍尔效应等的测试原理、测试步骤和应用。

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