| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：84

题名/责任者:
SOI CMOS技术及其应用/黄如等编著
出版发行项:
北京:科学出版社,2005.10
ISBN及定价:
7-03-015968-3/CNY48.00
载体形态项:
383页;24cm
个人责任者:
黄如 编著
个人责任者:
张国艳 编著
个人责任者:
李映雪 编著
学科主题:
互补MOS集成电路
非控制主题词:
CMOS
中图法分类号:
TN432
提要文摘附注:
本书详细分析和阐述SOI MOS器件的主要基本特征和物理效应，包括浮体效应、短沟效应、窄沟效应、边缘效应等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN432/440 70869163   样本书阅览室（密集书库136）     非可借
TN432/440 70869164   自然书库（3F东）     可借
TN432/440 70869165   自然书库（3F东）     可借
TN432/440 70869166   自然书库（3F东）     可借
TN432/440 70869167   自然书库（3F东）     可借
显示全部馆藏信息
CADAL相关电子图书
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架