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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:89

题名/责任者:
氮化物宽禁带半导体材料与电子器件/郝跃,张金风,张进成著
出版发行项:
北京:科学出版社,2013
ISBN及定价:
978-7-03-036717-4 精装/CNY86.00
载体形态项:
11,303页:图;25cm
丛编项:
半导体科学与技术丛书
个人责任者:
郝跃
个人责任者:
张金风
个人责任者:
张进成
学科主题:
氮化物-禁带-半导体材料
学科主题:
氮化物-禁带-电子器件
中图法分类号:
TN304
提要文摘附注:
本书以作者多年的研究成果为基础,系统地介绍了Ⅲ族氮化物宽禁带半导体材料与电子器件的物理特性和实现方法,重点介绍了半导体高电子迁移率晶体管(HEMT)与相关氮化物材料。全书共14章,内容包括:氮化物材料的基本性质、异质外延方法和机理,HEMT材料的电学性质,AlCaN/GaN和InAlN/GaN异质结的生长和优化、材料缺陷分析,GaNHEMT器件的原理和优化、制备工艺和性能、电热退化分析,GaN增强型HEMT器件和集成电路,GaN MOS-HEMT器件,最后给出了该领域未来技术发展的几个重要方向。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN304/4601 71855432  - 自然书库(3F东)     可借 现代技术部(1F)
TN304/4601 71855433  - 自然书库(3F东)     借出-应还日期:2024-09-17 现代技术部(1F)
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