MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：90
- 题名/责任者:
- 数字集成电路设计验证:量化评估、激励生成、形式化验证/李晓维 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-03-027609-4/CNY58.00
- 载体形态项:
- 411页:图;24cm
- 其它题名:
- 量化评估激励生成形式化验证
- 个人责任者:
- 李晓维 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-电路设计-验证
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果，兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。本书内容反映了中科院计算所在数字集成电路设计验证方面的最新研究进展，主要工作成果已在国内外学术刊物和会议上发表。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN431.2/4621 | 71607123 | - |  自然书库（3F东）
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| TN431.2/4621 | 71607124 | - | 自然书库（3F东）
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| TN431.2/4621 | 71607125 | - | 自然书库（3F东）
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可借 |
| TN431.2/4621 | 71607126 | - | 自然书库（3F东）
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| TN431.2/4621 | 71607127 | - | 自然书库（3F东）
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可借 |
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