MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：25
- 题名/责任者:
- Practical analytical electron microscopy in materials science Williams , David D
- 出版发行项:
- Mahwad , N . J Philips Electronic Instruments , Inc 1984
- 载体形态项:
- 153c28 cm
- 附加个人名称:
- Williams , David D
- 中图法分类号:
- TB3
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TB3/W1 | 7687 |  外文书库(影)（密集书库）
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| TB3/W1 | 8788 | 外文书库(影)（密集书库）
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可借 |
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