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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:49

题名/责任者:
Lattice可编程器件测试技术/吴丹,石坚,周红著
出版发行项:
西安:西北工业大学出版社,2015
ISBN及定价:
978-7-5612-4253-7/CNY30.00
载体形态项:
49页;23cm
个人责任者:
吴丹
个人责任者:
石坚
个人责任者:
周红
学科主题:
可编程序逻辑阵列-测试技术
中图法分类号:
TP332.1
提要文摘附注:
本书从工程实际应用出发,对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法、保证测试向量和测试程序开发效率和质量的可编程器件测试技术规范、研究结论及结果分析等。
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TP332.1/670 72031216  - 临安密4(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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TP332.1/670 72031218  - 临安密4(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密4(信息工程学院)(不可借)
TP332.1/670 72014766  - 自然书库(3F东)     可借
TP332.1/670 72014767  - 自然书库(3F东)     可借
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