MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：104
- 题名/责任者:
- 航天电子系统最坏情况电路分析技术/任立明 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:中国宇航出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-5159-1742-9 精装/CNY58.00
- 载体形态项:
- xiii, 146页:图;27cm
- 个人责任者:
- 任立明 著
- 个人责任者:
- 时晓东 著
- 个人责任者:
- 张云中 著
- 学科主题:
- 航天器可靠性-电路分析-研究
- 中图法分类号:
- V417
- 题名责任附注:
- 著者还有: 时晓东, 张云中, 曹鹏
- 出版发行附注:
- 航天科技图书出版基金资助出版
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书总结了国内外相关研究与应用情况，试图以工程实用性、有效性为出发点，介绍最坏情况电路分析技术的原理、方法、流程、工具、项目管理以及工程应用案例。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| V417/206 | 72393611 |  第二书库（10F）
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可借 | 第二书库（10F） | |
| V417/206 | 72393612 | 第二书库（10F）
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可借 | 第二书库（10F） | |
| V417/206 | 72393613 | 第二书库（10F）
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可借 | 第二书库（10F） |
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