MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：10
- 题名/责任者:
- 纳米器件空间辐射效应/陈伟[等]著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-03-078610-4/CNY198.00
- 载体形态项:
- 280页:图;24cm
- 丛编项:
- 辐射环境模拟与效应丛书
- 个人责任者:
- 陈伟 著
- 学科主题:
- 纳米材料-电子器件-辐射效应
- 中图法分类号:
- TN103
- 题名责任附注:
- 著者还有：罗尹红、刘杰、马晓华、赵云富、郭刚等
- 提要文摘附注:
- 本书以先进的纳米工艺器件为研究载体，重点阐述纳米材料辐射损伤微观机制、纳米器件辐射效应新机理、纳米器件可靠性、纳米电路辐射效应及加固设计新方法、纳米器件和电路敏感区域分布和薄弱环节分析的重离子微束模拟试验方法等，为我国未来宇航用高端核心器件的抗辐射加固奠定理论和技术基础，推动我国抗辐射加固技术自主创新发展。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN103/7201 | 72586617 |  自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TN103/7201 | 72586618 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TN103/7201 | 72586619 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） |
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