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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:41

题名/责任者:
搞砸了的设计:随处可见的BAD UI/(日) 中村聪史著 邬佳笑译
出版发行项:
北京:人民邮电出版社,2016
ISBN及定价:
978-7-115-42805-9/CNY79.00
载体形态项:
xxi, 221页:彩图;26cm
其它题名:
随处可见的BAD UI
丛编项:
图灵交互设计丛书
个人责任者:
中村聪史
个人次要责任者:
邬佳笑
学科主题:
人机界面-程序设计
中图法分类号:
TP311.1
出版发行附注:
由Gijutsu Hyoron Co., Ltd.授权出版
提要文摘附注:
本书作者经过了长期的积累,收集了近200个BAD UI案例,比如搞不清是推开还是拉开的大门、让人进错洗手间的男女标识、不得不一遍遍重新填写的表格、令人不知所措的自动售票机界面或Web页面等。旨在结合照片挖掘这些失败案例背后的原因,使读者以它们为参考,学习什么样的设计会造成用户不便,进而设计出或选择到更好的UI。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP311.1/541 72134720  - 自然书库(3F东)     可借
TP311.1/541 72134721  - 自然书库(3F东)     可借
TP311.1/541 72134722  - 自然书库(3F东)     可借
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