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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:51

题名/责任者:
电子元器件检验技术.试验部分/工业和信息化部电子第五研究所组编 王晓晗, 罗宏伟编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2019
ISBN及定价:
978-7-121-33484-9/CNY98.00
载体形态项:
xi, 369页:图;26cm
丛编项:
可靠性技术丛书
个人次要责任者:
王晓晗 编著
个人次要责任者:
罗宏伟 编著
团体责任者:
工业和信息化部电子第五研究所 组编
学科主题:
电子元器件-测试技术
中图法分类号:
TN606
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 以及不同类别电子元器件的检验技术等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN606/132:V2 72294268   自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
TN606/132:V2 72294269   自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
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