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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:18

题名/责任者:
计算机测试与控制技术/李行善,于劲松编著
出版发行项:
北京:北京航空航天大学出版社,2019
ISBN及定价:
978-7-5124-3005-1/CNY119.00
载体形态项:
575页:图;24cm
个人责任者:
李行善 (1938-) 编著
个人责任者:
于劲松 (1968-) 编著
学科主题:
计算机测试
学科主题:
计算机控制
中图法分类号:
TP306
提要文摘附注:
本书从工程应用的角度研究计算机测试与控制所涉及的理论与方法,使读者了解和掌握计算机测控工程系统的设计与实现方法。全书将计算机测控系统所涉及的共性问题,如计算机接口技术、测控总线技术、常用测控算法、软硬件抗干扰技术、测控系统的设计方法等归纳编写成独立章节进行讲述,便于读者根据实际工程需要有针对性地学习。
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TP306/4281 60239945   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
TP306/4281 60239946   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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