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题名/责任者:

面向集成电路电阻电容提取的高级场求解器技术:英文/喻文健，(美)王习仁著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2014.05

ISBN及定价:

978-7-302-35151-1 精装/CNY59.00

载体形态项:

259页;21cm

个人责任者:

喻文健 著

个人责任者:

(美) 王习仁 著

学科主题:

集成电路

中图法分类号:

TN4

提要文摘附注:

电阻、电容(RC)提取是设计纳米制造工艺集成电路的重要步骤，通过它对集成电路中的互连线或衬底耦合效应进行电学建模，为进一步的电路性能验证、制造良率分析提供基础。用于RC提取的场求解器方法直接对电场进行求解，因此具有最高的准确度。为了满足集成电路设计中准确建模与仿真的要求，场求解器RC提取方法正变得越来越重要。本书对刻画超大规模集成电路互连线和混合信号集成电路衬底耦合效应的关键场求解器提取方法进行了全面、系统的介绍。通过来自实际电路设计的例子，对各种场求解器算法进行了详细阐述，并说明它们各自的优点和缺点。

使用对象附注:

集成电路领域技术人员

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