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题名/责任者:

数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误/李晓维 ... [等] 著

出版发行项:

北京:科学出版社,2011

ISBN及定价:

978-7-03-030576-3 精装/CNY68.00

载体形态项:

x, 433页:图;25cm

其它题名:

容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误

个人责任者:

李晓维 著

个人责任者:

胡瑜 著

个人责任者:

张磊 著

个人责任者:

鄢贵海 著

学科主题:

数字集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN431.2

一般附注:

中国科学院科学出版基金资助

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 胡瑜, 张磊, 鄢贵海

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面: 容缺陷 (和故障) 、容参数偏差以及软错误 ; 包括3S技术 (自测试、自诊断、自修复) 的基本原理。

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