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题名/责任者:

可靠性物理/恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-121-27232-5/CNY88.00

载体形态项:

XVI, 426页:图;24cm

丛编项:

可靠性技术丛书

个人责任者:

恩云飞 编著

个人责任者:

谢少锋 编著

个人责任者:

何小琦 编著

学科主题:

电子元件-可靠性

学科主题:

电子器件-可靠性

中图法分类号:

TN6

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和失效物理模型。全书共13章, 前两章介绍可靠性物理及其发展现状, 并介绍了8类经典的失效物理模型及工程应用的意义 ; 后11章分别论述了微电子器件、微波器件、光电子器件等。

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