MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:38
- 题名/责任者:
- Defect and fault tolerance in VLSI systems . C.H. Stapper, V.K. Jain and G. Saucier
- 出版发行项:
- New York Plenum Pr. 1990
- ISBN:
- 0-306-43531-4
- 载体形态项:
- XIIII, 316c25 cm
- 中图法分类号:
- TN47-53
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