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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：34

题名/责任者:
半导体材料与器件表征技术/(美)Dieter K. Schroder著 大连理工大学半导体研究室译
出版发行项:
大连:大连理工大学出版社,2008
ISBN及定价:
978-7-5611-4138-0/CNY99.80
载体形态项:
20, 542页:图, 表;24cm
并列正题名:
Semiconductor material and device characterization
个人责任者:
(美) 施罗德, D.K. (Schroder, Dieter K.) 著
团体次要责任者:
大连理工大学 半导体研究室 译
学科主题:
半导体材料-研究
学科主题:
半导体器件-研究
中图法分类号:
TN304
书目附注:
有书目(第530-540页)
提要文摘附注:
本书共10章，包括：电阻率，载流子和掺杂浓度，接触电阻、肖特基势垒及电迁移，串联电阻、沟道长度与宽度、阈值电压及热载流子等内容。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN304/062 71324502  - 样本书阅览室（密集书库136）     非可借
TN304/062 71324503  - 自然书库（3F东）     可借 现代技术部（1F）
TN304/062 71324504  - 自然书库（3F东）     可借
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