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Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

材料分析方法/主编王轶农 参编谭家隆

出版发行项:

大连:大连理工大学出版社,2012

ISBN及定价:

978-7-5611-6694-9/CNY39.80

载体形态项:

333页:图, 肖像;26cm

并列正题名:

Advanced analytical technique for materials

丛编项:

高等学校理工科材料类规划教材

个人责任者:

王轶农 主编

个人次要责任者:

谭家隆 参编

学科主题:

工程材料-分析方法

中图法分类号:

TB3

相关题名附注:

英文并列题名中的analysical应为analytical

书目附注:

有书目 (第332-333页)

提要文摘附注:

材料的X射线衍射分析是以X射线在晶体材料中所产生的衍射现象作为基础的, 通过测试和分析衍射方向和强度的变化来确定和分析材料内部的微观组织结构特征。本书主要内容包括X射线在晶体中衍射的基本原理, X射线衍射的基本实验方法及其这些方法在晶体材料研究中的应用等三部分。材料的电子显微分析是以聚焦电子束作为照明光源, 利用聚焦电子束与样品相互作用所产生的各种现象来分析和确定材料内部的微观组织结构特征。其主要内容包括透射电子显微镜 (TEM)、扫描电子显微镜 (SEM)、电子探针 (EPMA) 等显微分析技术。

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