杭州电子科技大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

半导体器件电离辐射总剂量效应/陈伟 ... [等] 编著

出版发行项:

北京:科学出版社,2022.9

ISBN及定价:

978-7-03-070039-1/CNY135.00

载体形态项:

226页:图;24cm

丛编项:

辐射环境模拟与效应丛书

个人责任者:

陈伟 编著

个人责任者:

何宝平 编著

个人责任者:

姚志斌 编著

学科主题:

半导体器件-电离辐射-辐射效应

中图法分类号:

TN303

题名责任附注:

题名页题: 陈伟, 何宝平, 姚志斌, 马武英编著

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书主要介绍电离辐射环境与效应、体硅CMOS工艺器件和SOI 工艺器件电离总剂量效应、双极工艺器件低剂量率辐射损伤增强效应、总剂量效应数值模拟和试验方法、总剂量效应预估模型与方法、纳米器件总剂量效应与可靠性、系统级总剂量效应模拟试验方法等内容。

使用对象附注:

本书可作为从事辐射物理、抗辐射加固技术研究的科技人员及相关专业高校师生的参考书

豆瓣简介：