杭州电子科技大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

数字集成电路测试:理论、方法与实践/李华伟等编著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-302-66203-7/CNY79.00

载体形态项:

10,258页:图;26cm

其它题名:

理论、方法与实践

丛编项:

集成电路科学与技术丛书

个人责任者:

李华伟 编著

学科主题:

数字集成电路-测试技术

中图法分类号:

TN431.207

提要文摘附注:

本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论，第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。针对每一种数字电路测试技术，本书一方面用示例讲述其技术原理，另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程(EDA工具应用脚本及其说明将作为本书附录在网站上提供下载)，并在章后附有习题。通过本书，读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术；另一方面，还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。

豆瓣简介：