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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:56

题名/责任者:
系统芯片(SoC)验证方法与技术/(美)拉申卡(Prakash Rashinkar), 帕特森(Peter Paterson), 信赫(Leena Singh)著 孙海平, 丁建译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2005.1
ISBN及定价:
7-121-00589-1/CNY29.00
载体形态项:
263页:图, 表格;26cm
并列正题名:
System-on-a-chip verification methodology and techniques
个人责任者:
拉申卡 Prakash 著
个人责任者:
Rashinkar Prakash 著
个人责任者:
帕特森 Peter 著
个人责任者:
Paterson Peter 著
个人责任者:
信赫 Leena 著
个人次要责任者:
Singh Leena 著
个人次要责任者:
孙海平
个人次要责任者:
丁建
学科主题:
集成电路-芯片-设计
学科主题:
集成电路
学科主题:
芯片
学科主题:
设计
中图法分类号:
TN402
书目附注:
本书含参考文献与附录
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN402/552 70773354   样本书阅览室(密集书库136)     非可借
TN402/552 70773355   自然书库(3F东)     可借
TN402/552 70773356   自然书库(3F东)     可借
TN402/552 70773357   自然书库(3F东)     可借
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