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- 题名/责任者:
- 系统芯片(SoC)验证方法与技术/(美)拉申卡(Prakash Rashinkar), 帕特森(Peter Paterson), 信赫(Leena Singh)著 孙海平, 丁建译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2005.1
- ISBN及定价:
- 7-121-00589-1/CNY29.00
- 载体形态项:
- 263页:图, 表格;26cm
- 个人责任者:
- 拉申卡 Prakash 著
- 个人责任者:
- Rashinkar Prakash 著
- 个人责任者:
- 帕特森 Peter 著
- 个人责任者:
- Paterson Peter 著
- 个人责任者:
- 信赫 Leena 著
- 个人次要责任者:
- Singh Leena 著
- 个人次要责任者:
- 孙海平 译
- 个人次要责任者:
- 丁建 译
- 学科主题:
- 集成电路-芯片-设计
- 学科主题:
- 集成电路
- 学科主题:
- 芯片
- 学科主题:
- 设计
- 中图法分类号:
- TN402
- 书目附注:
- 本书含参考文献与附录
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TN402/552 | 70773354 | 样本书阅览室(密集书库136) | 非可借 | |
TN402/552 | 70773355 | 自然书库(3F东) | 可借 | |
TN402/552 | 70773356 | 自然书库(3F东) | 可借 | |
TN402/552 | 70773357 | 自然书库(3F东) | 可借 | |
TN402/552 | 70773358 | 自然书库(3F东) | 可借 |
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