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题名/责任者:

测试成熟度模型集成:测试过程改进指南/Erik van Veenendaal，Brian Wells著 李燕[等]译

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2014

ISBN及定价:

978-7-302-34026-3/CNY29.00

载体形态项:

16,198页;26cm

并列正题名:

Test maturity model integration TMMi

其它题名:

测试过程改进指南

个人责任者:

温尼戴尔 (Veenendaal, Erik van) 著

个人责任者:

威尔 (Wells, Brian) 著

个人次要责任者:

李燕 译

学科主题:

软件-测试-研究

中图法分类号:

TP311.5

一般附注:

21世纪高等学校规划教材·软件工程

题名责任附注:

译者还有：刘峥、牟刚、彭月、吴溪

相关题名附注:

书名原文：Test maturity model integration TMMi

提要文摘附注:

本书包括TMMi发布版1.0完整和详细的描述。全书由3部分组成，第一部分分为3章，第1章描述了TMMi的背景和历史，阐述了TMMi模型开发过程中的主要来源以及相应的范围；第2章提供了5个成熟级别的概览和描述，以及相关的过程域；第3章描述了TMMi过程域的所有组件。第二部分由16小节组成，每一个小节都是TMMi的一个过程域。第三部分由6项内容组成：关于TMMi基金会的介绍、关于作者的介绍、附录A、附录B、术语表和参考文献。

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