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题名/责任者:

单元测试之道C#版:使用NUnit/(美)亨特(Andrew Hunt)，托马斯(David Thomas)著 陈伟柱, 陶文译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2005.1

ISBN及定价:

7-121-00666-9/CNY25.00

载体形态项:

159页;23cm

并列正题名:

Pragmatic Unit Testing in C# with NUnit

其它题名:

使用NUnit

丛编项:

程序员修炼三部曲

个人责任者:

亨特(Andrew Hunt) 著

个人责任者:

托马斯(David Thomas) 著

个人次要责任者:

陈伟柱 译

个人次要责任者:

陶文 译

学科主题:

C语言-程序设计

中图法分类号:

TP311.5

版本附注:

The Pragmatic Programmers,LLC授权出版

丛编附注:

丛书第二部

提要文摘附注:

本书介绍了如何更高效的撰写bug更少的代码；如何发现bug的藏身之处以及如何清除bug；如何测试代码片断而不用牵连整个项目；如何利用NUnit简化测试代码；如何在团队中高效地进行测试等。

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