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题名/责任者:

半导体物理与器件实验教程/刘诺 ... [等] 编著

出版发行项:

北京:科学出版社,2015.6

ISBN及定价:

978-7-03-044221-5/CNY32.00

载体形态项:

xiii, 176页:图;24cm

丛编项:

微电子专业实验教材系列丛书

个人责任者:

刘诺 编著

学科主题:

半导体物理学-实验-教材

学科主题:

微电子技术-电子器件-实验-教材

中图法分类号:

O47-33

一般附注:

“电子信息材料与器件国家级实验教学示范中心”系列规划教材 教育部“卓越工程师教育培养计划”系列教材

题名责任附注:

题名页题: 刘诺, 任敏, 钟志亲, 蒋书文, 罗小蓉编著

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书分上下两篇，上、下两篇既独立成篇又互为联系，隶属于微电子相关专业的知识体系，其中每篇又由“基础知识”和“实验”两部分构成。上篇为“半导体物理实验”，分别为构建晶体结构、仿真与分析晶体电子结构、单波长椭偏法测试分析薄膜的厚度与折射率、四探针测试半导体电阻率、霍耳效应实验、高频光电导法测少子寿命、肖特基二极管的电流-电压测试分析、肖特基二极管的势垒高度和半导体的杂质浓度的测试分析、MIS的高频C-V测试。下篇为“微电子器件实验”，分别为二极管直流参数测试、双极型晶体管直流参数测试、MOS场效应晶体管直流参数测试、双极型晶体管开关参数测试、双极型晶体管频率特性测试。

使用对象附注:

本书可作为高等学校微电子、电子科学与技术、光电子、集成电路与集成系统及相关专业本科生实验教材。

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