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  1. 中文图书1.集成电路系统设计、验证与测试 TN402/352

    馆藏复本：5
    可借复本：5     (美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grabt Nartin著
    科学出版社 2008
    (0) 馆藏

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