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中文图书1.软件测评典型案例剖析 TP311.55/122
馆藏复本:3
可借复本:3 于秀山 ... [等] 编著
电子工业出版社 2022
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中文图书2.C/C++程序缺陷与优化 TP312C/1227
馆藏复本:2
可借复本:2 于秀山 ... [等] 编著
电子工业出版社 2014.4
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中文图书3.程序设计缺陷分析与实践 TP311.1/1301
馆藏复本:5
可借复本:2 尹浩, 于秀山编著
电子工业出版社 2011
(0) 馆藏