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  1. 中文图书1.温度对微电子和系统可靠性的影响 TN4/520

    馆藏复本：5
    可借复本：4     (美)Pradeep Lall，(美)Michael G. Pecht，(美)Edward B. Hakim著
    国防工业出版社 2008
    (0) 馆藏

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