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中文图书1.集成测试框架:用Fit进行敏捷软件测试 TP311.5/241
馆藏复本：5
可借复本：0 (美)穆格雷珠Rick Mugridge, Ward Cunningham著
电子工业出版社 2007
(0) 馆藏
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可借复本：0 (美)穆格雷珠Rick Mugridge, Ward Cunningham著
电子工业出版社 2007
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