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中文图书1.深入浅出全链路压测 TP311.55/674
馆藏复本:5
可借复本:5 吴骏龙著
人民邮电出版社 2024
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中文图书2.现代软件测试技术之美 TP311.5/496
馆藏复本:5
可借复本:5 茹炳晟,吴骏龙,刘冉编著
人民邮电出版社 2024
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中文图书3.软件研发效能提升之美 TP311.52/674
馆藏复本:4
可借复本:4 吴骏龙, 茹炳晟著
电子工业出版社 2021
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