检索到 9 条 责任者=恩云飞 的结果
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中文图书1.集成电路封装可靠性技术 TN405/700
馆藏复本：3
可借复本：3 周斌,恩云飞,陈思编著
电子工业出版社 2023
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中文图书2.电子微组装可靠性设计,应用篇 TN605/291:V2
馆藏复本：3
可借复本：3 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2022
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中文图书3.电子微组装可靠性设计,基础篇 TN605/291
馆藏复本：6
可借复本：6 何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著
电子工业出版社 2020
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中文图书4.半导体集成电路的可靠性及评价方法 TN43/060
馆藏复本：1
可借复本：1 章晓文, 恩云飞编著
电子工业出版社 2015
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中文图书5.可靠性物理 TN6/622
馆藏复本：1
可借复本：1 恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著
电子工业出版社 2015
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中文图书6.电子产品故障预测与健康管理:应用构架与实践 TN02/194
馆藏复本：2
可借复本：2 孔学东, 恩云飞, 陆裕东等著
电子工业出版社 2013.11
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中文图书7.ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use TN743.2/322
馆藏复本：3
可借复本：3 (美) Steven H. Voldman著
机械工业出版社 2014.6
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中文图书8.电子封装技术与可靠性 TN05/7221
馆藏复本：2
可借复本：2 (美) H. 阿德比利, 迈克尔·派克著
化学工业出版社 2012
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中文图书9.电子元器件失效分析与典型案例 TN601/194
馆藏复本：1
可借复本：0 孔学东，恩云飞主编
国防工业出版社 2006.9
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