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  1. 中文图书1.集成测试框架:用Fit进行敏捷软件测试 TP311.5/241

    馆藏复本：5
    可借复本：0     (美)穆格雷珠Rick Mugridge, Ward Cunningham著
    电子工业出版社 2007
    (0) 馆藏

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