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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/5422
馆藏复本:2
可借复本:2 (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel),(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编
机械工业出版社 2016
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中文图书2.基于片上去耦电容的配电网络 TN402/202
馆藏复本:1
可借复本:1 (以)Renatas Jakushokas[等]著
机械工业出版社 2014
(0) 馆藏