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检索到 2 条 责任者=蒋安平 的结果    

 


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  1. 中文图书1.数字系统测试 TP271/400

    馆藏复本：3
    可借复本：0     (美)Niraj Jha, Sandeep Gupta著
    电子工业出版社 2007
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.超大规模集成电路测试:For Digital Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits TN470.7/424

    馆藏复本：4
    可借复本：3     (美)布什内尔(Michael L.Bushnell), (美)Vishwani D.Agrawal著
    电子工业出版社 2005.8
    (0) 馆藏

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