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  1. 中文图书1.数字系统测试与可测试设计 TP271/745*1

    馆藏复本：6
    可借复本：0     (美)阿布拉莫韦奇(Miron Abramovici)，布鲁尔(Melvin A.Breuer)，弗里德曼(Arthur D.Friedman)著
    机械工业出版社 2006.8
    (0) 馆藏

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