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  1. 中文图书1.数字系统测试与可测试设计 TP271/745*1

    馆藏复本:6
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    (美)阿布拉莫韦奇(Miron Abramovici),布鲁尔(Melvin A.Breuer),弗里德曼(Arthur D.Friedman)著
    机械工业出版社 2006.8
    (0) 馆藏


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